工業產品的機械特性主要是取決於製造工藝中使用的粉末特性。粒徑大小與元素分析是金屬粉末品質控制中最常使用的兩種重要方法。Microtrac MRB 和 ELTRA 舉辦的網路研討會，將提供客戶如何改進品質控管流程的重要資訊。

本次粉末冶金網路研討會，將密切關注粒徑分佈和樣品形態的影響，這對粉末是否適合積層製造至關重要。此外 C/S/O/N/H 等元素對樣品材料的影響，以及為什麼需要使用元素分析進行品質控制，也為客戶提供詳細的說明。

主題    
Microtrac MRB
․什麼是雷射粒徑分析儀，您能用它測量什麼？
․光學粒徑及型態分析如何改善雷射粒徑分析結果？
․為什麼要使用像CAMSIZER X2這樣的專用光學粒徑及型態分析裝置？
․SYNC和 CAMSIZER X2 金屬粉末粒徑分析應用說明

Eltra
․積層製造的品質控制
․金屬中的C/S/O/N/H分析
․元素分析測量方法
․元素分析標準概述（ASTM）

網路研討會將以英文舉行，免費參加，您僅須在下方線上報名即可，完成後我們會傳送相關會議連結給您。在網路研討會結束時，您將可以下載網路研討會的所有相關信息。

日期與時間：
2021年3月16日
09:00 - 10:30 am CEST*(台灣時間4:00 – 5:30pm)
(suitable for Europe and Asia)

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