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靜態光學粒徑及型態分析儀 Camsizer M1

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靜態光學粒徑及型態分析儀
Camsizer M1 Brochure(MRB).pdf

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作用原理
CAMSIZER M1採用靜態光學影像測量顆粒的粒徑及型態，測量範圍0.5 µm-1500 µm。裝載樣品材料的玻片隨著相機系統同步移動，確保每移動一步拍攝一張照片，乾濕樣品（粉末、懸浮液）均可分析。相較於動態影像分析法 ，靜態光學影像法的樣品在測量過程中是固定的，因此可以獲得更高品質的顆粒圖像，捕獲更豐富的產品資訊。

每次檢測，靜態光學粒徑及型態分析儀CAMSIZER M1自動對焦在觀測板上，確保所選區域的所有顆粒都能得到高精度影像（傾斜補償）。分析過程中可以儲存所有影像和測量資料，使用Particle X-Plorer軟體為後續資料評估提供了多種可能性。測量完成後，總體影像提供客戶直觀的顆粒特性。透過創新的拼接演算法，實現多個測量區域的無縫拼接，甚至能夠評估尺寸大於1500μm的顆粒。

產品特點
硬體:

1. 測量範圍0.5—1500 µm
2. 1810萬畫素彩色攝像頭
3. 測量可用透射光或入射光或兩者同時使用
4. 多種樣品夾具可選，提供最大靈活性
5. 配備有5個物鏡，另可選配1個物鏡
6. 高精度樣品控制台
7. 使用搖桿操控
8. 使用M-Jet模組對樣品粉末進行有效分散

軟體:

1. 直觀的分析軟體
2. 同時進行樣品粒徑及型態分析
3. 粒徑定義包括寬度、等面積圓直徑、費雷特長度、馬丁直徑等
4. 型態參數包括圓度、凹凸度、長寬比、緊密度等
5. Particle X-Plorer軟體可評估測量後的每個顆粒特性
6. 完整綜合粒徑資料庫
7. 可顯示對應的數量、面積、體積測量結果
8. 無縫拼接演算法

操作優點:

1. 快速簡單的校正方式
2. 多種配件可供選擇
3. 高解析度影像
4. 同時記錄顆粒資料和影像
5. 自動測量再現性高