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| 適用樣品 | 觸媒、玻璃砂、塑膠、糖/鹽、煤炭、藥品、顏料、金屬粉等材料 |
| 樣品範圍 | 0.8um ~8mm |
| 影像模式 | 採雙鏡頭擷取樣品影像，解析度更高 |
| 模組設計 | X-Fall(Free Fall – 10um-8mm), X-Jet(Air Jet – 0.8um-5mm), X-Flow(Wet – 0.8um-1mm) |
| 粒徑分析 | Xc min(v.s. Sieving(Width)), Xarea(v.s Area), , XFe max(v.s. Length)等 |
| 型態分析 | B/I Ratio, Roundness, Symmetry, Convexity等 |
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影片連結:
1.可大量分析樣品，避免因取樣不足造成再現性不佳
2.可在2-5分鐘內完成樣品粒徑、大小及型態分析
3.乾式及濕式分析，僅需1分鐘即可更換模組，可節省樣品準備及清潔時間
4.雙鏡頭擷取影像：Basic Camera擷取大粒徑樣品影像，Zoom Camera擷取小粒徑樣品影像
5.軟體具有Particle X-plorer with 3D Cloud功能，更清楚探討樣品粒徑及型態分佈情況
6.附有Certified Calibration Standard標準組合做校正之用
